| 走査型プローブ顕微鏡 |
蛍光Ｘ線分析装置・膜圧計 |
| 製 品 説 明 |
| 光学顕微鏡で得られないマイクロメートルからナノメートルの表面三次元形状が観察可能で、試料表面の物性や特性なども測定できます。 |
| 用 途 |
表面形状観察、位相（硬さ）・吸着力測定摩擦力測定、電気物性・磁気物性測定など
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| 製 品 説 明 |
| 蛍光Ｘ線を用いて、非破壊で試料表面微小部に含まれる元素定性分析や濃度測定する装置で、膜圧計は金属の膜の厚み（μｍ）を測定できます。 |
| 用 途 |
表面形状観察、位相（硬さ）・吸着力測定摩擦力測定、電気物性・磁気物性測定など
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| 熱分析装置 ＤＳＣ，ＴＧ／ＤＴＡ，ＴＭＡ／ＳＳ，ＤＭＡ |
ＩＣＰ発光分光分析装置・質量計 |
| 製 品 説 明 |
| 金属や樹脂、食品などの温度条件変化の下で生じる重量や寸法の変化や熱量、物性変化量を測定する装置です。 |
| 用 途 |
融点測定、ガラス転移温度測定、熱重量変化、耐熱性評価、
膨張率・軟化点・弾性率測定など |
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| 製 品 説 明 |
試料に含まれる主成分から微量成分元素までの多元素を一度に測定できます。
質量分析装置はｐｐｍからｐｐｔオーダーまでの検出可能です。 |
| 用 途 |
有害元素の濃度測定、メッキ液の濃度管理、土壌や河川、
工業用排水の定性・定量分析など。 |
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